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对于600 nm以上的波长范围，通过已知色温数据的标准钨灯光源作为来求得发射光谱校正曲线[12]，荧光发光效率测量系统价格，如图7所示。校正方法是将标定过色温数据的钨灯放入样品室，调整标准电源达到标准钨灯的标定电流工作模式，日照荧光发光效率测量系统，使标准钨灯达到已知的色温状态。仪器执行发射波长扫描，扫描波长范围为600～900 nm。此时得到的光谱为w（λ）。这样就可以获得600～900 nm仪器发射光谱综合响应特征系数m（λ600～900），即式中：m（λ600～900）为600～900 nm仪器发射光谱综合响应特征系数；w（λ）为600～900 nm发射波长扫描光谱；h（λ，广州荧光发光效率测量系统，t）为色温t时的辐射曲线；t为标准钨灯的色温。

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实验验证

利用荧光---产率测量系统，对已知荧光---产率的物质进行测量验证，测试结果如表1。对比测试结果表明，新研制的荧光---产率测量系统所得出的物质荧光---产率数据与传统参考文献的数据基本一致，且在不同的测试波长范围内均能保持较高的准确性。

结　论

研制的国产荧光---产率测量系统，主机采用国产f98荧光分光光度计，荧光发光效率测量系统厂家，样品光路设计采用积分球技术，光谱校正采用---计数器和标准钨灯方式，配合荧光---产率分析软件，可实现对物质荧光---产率的法测量。用已知---产率的标准物质进行验证，结果表明，系统的测量准确性较高，可满足大部分荧光物质的测试要求。系统的研制使我国在荧光---产率测量方面取得重要进展，是目前国内实现商品化的荧光---产率测量系统。

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