硅片反射率测量仪-梅州反射率测量仪-景颐光电好---

反射率测量仪——广州景颐光电科技有限公司是专门做反射率检测仪的公司

膜厚仪在测试时为了---测量的准确性，进行测试时要注意使用当中存在的各种小细节，这样才能---仪器的测量数据的度。

膜厚仪常用于工业生产中用来连续或者抽样测量产品的厚度。为了---测量的准确性，在进行测试的时候，我们需要注意哪些地方呢？

首先，在测量前---待测物表面上没有任何的附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等。还要注意周围其他电器设备不会产生磁场，否则就会干扰到磁性测厚法。

测试时，如果待测物基体是金属的，应用铁基调零板进行调零。测试中，测头与待测物表面要保持垂直。注意待测物的曲率对测量的影响。不要在弯曲的待测物表面上测量时。同时保持压力的恒定，不然会影响整体的测量结果。

欢迎咨询景颐光电了解更多反射率测量仪

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反射率检测仪

景颐光电生产的jy-fo2反射率检测系统采用积分球8°角测试方法，可以用于测量物体的反射率、反色和化学样品中的成分信息，是为涂料、颜料、油墨、平面样品、硅晶片、镀膜表面、镜面铝镜、油漆、塑料、布料等化工行业贯彻执行、:iso 2814、iso 3905、iso 3906、iso 6504-1、iso7724、gb/t5211.17、gb/t 9270、gb/t 23981、gb/t13452、gb5211、din5033、bsi13900-d4、astm 97、1347、d4212、iso 6719:2010等标准而研制的仪器，该仪器完全符合各标准。

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